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铸造时如果熔体过热或促进形核的活性杂质太少
作者:stfggs    发布于:2013-11-20 09:08:57    文字:【】【】【
摘要:铸造时如果熔体过热或促进形核的活性杂质太少,在特定的结晶条件下,则细晶区的晶体以枝晶单向成长,其成长方向与导热方向一致,距离冷却表面愈远,向宽度方向成长程度愈大。

铸造时如果熔体过热或促进形核的活性杂质太少,在特定的结晶条件下,则细晶区的晶体以枝晶单向成长,其成长方向与导热方向一致,距离冷却表面愈远,向宽度方向成长程度愈大。在柱状晶区的结晶前沿,残余熔体由于浓度过冷,温度梯度下降,形成大量新的晶体,新晶体的生长阻碍了柱状晶的继续生长,在柱状晶区前面形成了等轴晶区。

这样结晶后在铸锭的边部形成了狭长的沿热流方向成长的柱状晶区。打断口时可发现晶层分裂。晶层分裂的预防措施,严格防止熔体过热或局部过热,以免减少非自发晶核;合金成分与杂质含量调整适当;金属在炉内停留时间不能过长;集中供流或供流要均匀。上海方管

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